技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー

赤外線・テラヘルツセンサの基礎と応用

赤外線・テラヘルツセンサの基礎と応用

東京都 開催 会場 開催
関連するセミナー・出版物
本セミナーは終了いたしました。
セミナーの再開催を依頼する 関連するセミナー・出版物を探す

開催日

  • 2016年1月28日(木) 13時00分 ～ 17時00分

受講対象者

  • 赤外線、テラヘルツ波に関連する技術者、研究者
    • 医療機器
    • セキュリティ
    • 半導体検査
    • 分析機器
    • 非破壊検査装置
    • プラントなどの大型設備検査
    • 生体センシング など
  • 赤外線センサの性能評価に携わる方
  • 赤外線計測、サーモグラフィの担当者
  • 赤外線分光計測の担当者
  • 赤外線計測、テラヘルツ計測について基礎から学びたい方
  • 赤外線計測の応用を検討されている方
  • テラヘルツテクノロジーに興味を持っている方

修得知識

  • 赤外線センサの基礎
  • 赤外線センサで測定したデータの考え方
  • 赤外線センサの性能評価の方法
  • 赤外線計測の応用分野
  • テラヘルツセンシングの基礎
  • テラヘルツセンサの性能評価の方法
  • テラヘルツセンシングの応用

プログラム

  1. 赤外線・テラヘルツ波とは
    1. 赤外線と電磁波
    2. 赤外線・テラヘルツ波の分類
    3. 赤外線の性質
    4. テラヘルツ波の性質
  2. 光・赤外線・電波の研究の歴史
    1. 光の波動説
    2. 電磁気学とマックスウェル
    3. ヘルツの電磁気波動の発生と検出
    4. プランクの黒体放射の方程式
    5. アインシュタインの光量子仮説
    6. 赤外線・テラヘルツ波研究の歴史
  3. 電磁波のマクスウェル方程式
    1. 光と電波と赤外線
    2. マックスウェル方程式と電磁界の波動
  4. 赤外線の伝搬
    1. 透過と反射
    2. 吸収
    3. 散乱と回折および消散
    4. 大気の伝搬特性
  5. 赤外線の放射
    1. 熱放射に関するキルヒホッフの法則
    2. 吸収率,反射率と放射率
    3. プランクの法則と黒体放射
    4. 灰色体放射と放射率
    5. 連続スペクトルと線スペクトル,自然放射と誘導放射
  6. 赤外線検出器と感度
    1. 赤外線・テラヘルツ波の検出・計測
    2. 赤外線・テラヘルツ波の検出器の感度
    3. 光子 (量子型) 検出器の感度
    4. 熱的検出器の感度
    5. 電界検出器の感度
    6. 赤外線・テラヘルツ波検出器の分類
  7. 赤外線出器の雑音
    1. 雑音と分散、標準偏差
    2. ランダム離散発生のスペクトル密度関数
    3. ショット雑音
    4. 熱雑音と誘電損雑音
    5. 生成・再結合雑音と光子雑音
    6. 熱伝導ゆらぎによる雑音
    7. f分の1雑音
    8. 量子型検出器の雑音
    9. 熱型検出器の雑音
    10. OPアンプ増幅器出力における雑音
  8. 赤外線検出器の性能指標と評価
    1. 赤外線検出器の性能指標
    2. NEP (雑音等価電力)
    3. 検出能Dおよび比検出能D*
    4. 雑音等価放射照度 (NEI)
    5. 雑音等価温度差 (NETD)
    6. 赤外線・テラヘルツ検出器の性能評価法
  9. 赤外線計測の方法
    1. 放射計測
    2. 実際の赤外線計測で測定している放射
    3. 温度計測
    4. 放射温度と分光温度
    5. 分光計測
    6. 赤外線・テラヘルツ波の分光法
    7. プリズム分光法
    8. グレーティング分光法
    9. フーリエ分光法 (FT IR)
    10. テラヘルツ時間領域分光法 (THz-TDS)
  10. 赤外線計測の応用
    1. 放射温度計測とパッシブセンシング
    2. サーモグラフィの応用
    3. 赤外リモートセンシング
    4. 赤外分光・分析の応用
    5. 赤外線・サブミリ波天文学
    6. 赤外線防衛応用
  11. テラヘルツセンシングの応用
    1. テラヘルツ分光の応用
    2. テラヘルツアクティブイメージング
    3. テラヘルツパッシブイメージング
    4. テラヘルツCT
    5. テラヘルツ近接場顕微鏡
ページのトップヘ

講師

  • 廣本 宣久 氏
    静岡大学 創造科学技術大学院 ナノビジョン工学専攻
    教授
ページのトップヘ

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
ページのトップヘ

主催

株式会社 トリケップス
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 43,000円 (税別) / 46,440円 (税込)
1口
: 56,000円 (税別) / 60,480円 (税込) (3名まで受講可)

割引特典について

  • 複数名 同時受講:
    1口 56,000円(税別) / 60,480円(税込) (3名まで受講可能)
本セミナーは終了いたしました。
セミナーの再開催を依頼する
ページのトップヘ

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2024/5/16 高分子材料における添加剤の基礎知識と分析法、変色の特徴と分析技術 オンライン
2024/5/21 表面・界面分析手法の基礎と実務への活用 オンライン
2024/5/21 シリコン系光導波路とフォトニクスデバイス集積技術の開発 オンライン
2024/5/23 FT-IRの基礎と異物分析事例およびスペクトル解析のポイント オンライン
2024/5/24 高分子材料における添加剤の基礎知識と分析法、変色の特徴と分析技術 オンライン
2024/5/27 シリコン系光導波路とフォトニクスデバイス集積技術の開発 オンライン
2024/5/30 高分子材料の構造・物性とラマン・赤外分光法による評価 オンライン
2024/5/30 ラマン分光法の基礎と分析事例 オンライン
2024/6/10 FT-IRの基礎と異物分析への実践応用テクニックとコツ・ノウハウ オンライン
2024/6/11 メタマテリアル・メタサーフェスの光、電波制御への応用、今後の展望 オンライン
2024/6/12 FT-IRを用いた樹脂の劣化解析と寿命予測への活用可能性 オンライン
2024/6/12 6Gに向けた新たな伝送技術と国内外の研究動向 オンライン
2024/6/13 トライボロジーの基礎、メカニズムと表面分析 オンライン
2024/6/14 光信号処理技術と光電変換デバイス最新動向 オンライン
2024/6/20 FT-IRを上手に使うための基礎とスペクトルの解析 オンライン
2024/6/28 プラスチックリサイクルのための素材識別技術と高度選別装置の開発 オンライン
2024/6/28 FT-IRを上手に使うための基礎とスペクトルの解析 オンライン
2024/7/11 高分子材料における添加剤の基礎知識と分析技術 オンライン
2024/7/17 高分子の分子量・分子量分布の測定・評価方法と分子情報の抽出 オンライン
2024/7/29 分析におけるスペクトル解析の基本から応用テクニック オンライン
ページのトップヘ