技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、SEMを用いた解析を正しく実施するために、試料の特性や観察目的に応じた、観察条件の設定方法や試料前処理について解説いたします。
SEMは1965年に製品化されてから性能・機能および操作性が飛躍的に向上した。また、近年では自動機能も充実しており、SEMの初心者でもストレスなく操作ができることから、多くのユーザーが研究開発や品質管理のツールとして利用している。しかし、多くのユーザーは、観察目的に応じて観察条件を変更する作業を実施していないのが現状である。
今回は、最終的にSEMを用いた解析を正しく実施するために、試料の特性や観察目的に応じた、観察条件の設定方法や試料前処理について解説する。
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| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/1/23 | 半導体プロセスにおける検査・解析技術の基礎と最新技術動向 | オンライン | |
| 2026/2/9 | 半導体プロセスにおける検査・解析技術の基礎と最新技術動向 | オンライン | |
| 2026/3/12 | 走査電子顕微鏡 (SEM・EDS) の基礎と異物解析のポイント | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/3/31 | 電子顕微鏡〔2025年版〕技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2025/3/31 | 電子顕微鏡〔2025年版〕技術開発実態分析調査報告書 (書籍版) |
| 2013/6/20 | 電子顕微鏡 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2013/6/20 | 電子顕微鏡 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2007/12/10 | 表面・深さ方向の分析方法 【新装版】 |