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FIB (Focused Ion Beam / 集束イオンビーム)のセミナー・研修・出版物

めっきの基礎と膜形成・観察・解析技術

2015年12月24日(木) 12時30分16時30分
東京都 開催

本セミナーでは、めっきの基礎から解説し、電解めっき (Cu,Sn-Cu, Au,Ni) 、無電解めっき (Ni、ジンケ – ト処理) について課題や膜形成のポイントを解説いたします。

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