技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、FT-IRを正しく使用し、得られたスペクトルを正しく解析するために必要な基礎知識の習得を目的としております。
赤外分光法の基礎、スペクトルの解析とデータ処理方法、顕微測定を含むFT-IRの測定方法と適用可能な試料形態、サンプリング時のコツと失敗例、実際のアプリケーション事例を通じて、試料に応じた測定装置・測定法の選択からスペクトルの正しい理解・評価について詳解いたします。
FT-IRは赤外分光法という原理を用いた分析装置であり、FT-IRを用いた分析は、化合物の定性・定量ができるという特性から異物分析・品質管理・開発評価などに広く用いられている。また、金属以外の試料であれば、無機物・有機物問わず何らかの特徴的な情報が得られるため、FT-IRが有効な試料は数多くある。しかし、FT-IRの測定法は試料に応じて選択する必要があり、得られるスペクトルも測定法により異なる特徴がある。
本講座では、FT-IRを正しく使用し、得られたスペクトルを正しく解析するために必要な基礎知識の習得を目的とする。赤外分光法の基礎、スペクトルの解析とデータ処理方法、顕微測定を含むFT-IRの測定方法と適用可能な試料形態、サンプリング時のコツと失敗例、実際のアプリケーション事例などの紹介を通じて、試料に応じた測定装置・測定法の選択からスペクトルの正しい理解・評価までを行うことができる知識を習得する。
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複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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発行年月 | |
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2007/12/10 | 表面・深さ方向の分析方法 【新装版】 |