「特許請求の範囲の読み方」は、技術者・研究者と特許庁の審査官、審判官や裁判所の裁判官とは大きく異なります。技術者・研究者は特許請求の範囲を当然読めていると思いがちですが、不十分なことがあります。そのため技術者・研究者とベテラン知財部員 (特許庁の審査官、審判官や裁判所の裁判官の立場で読む「技術」を持っている) との会話では、技術者・研究者が気がつかない間に話がすれ違い、スムーズな知財活動ができていないことがあります。
　本講座では、技術者・研究者ならびに初級知的財産部員向けに、特許庁の審査官、審判官や裁判所の裁判官の立場で読む「技術」を講義します。この「技術」を習得することで、法律文である特許から技術情報が確実に簡単に読み取れるようになり、特許取得や他社特許の回避設計を容易にして、スムーズな知財活動ができるようになります。

1. 調査目的
   • 製品の侵害調査
   • 特許出願前の特許性調査
   • 他社特許無効化のための無効性調査
2. 侵害調査 裁判所目線
   • 裁判所の裁判官が、特許侵害訴訟で読む目線
3. 特許要件調査 審査官・審判官目線 (新規性・ 準公知・ダブルパテント)
4. 構成要件と発明特定事項
5. 具体例で対比してみよう!
   • 侵害調査 他社特許のクレームの読み方
   • イ号製品 (物件) を文章として表現・対比してみよう
   • 特許要件調査 本願発明の要旨認定をしてみよう
   • ダブルパテント防止規定の場合
   • 新規性・準公知の場合