技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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視聴期間は2025年1月10日〜24日を予定しております。
お申し込みは2025年1月10日まで承ります。
本セミナーでは、TOF-SIMSの実践的な解析方法と最新のTOF-SIMSの応用事例について解説いたします。
飛行時間型二次イオン質量分析 (TOF-SIMS) 法は、無機微量元素とともに有機物の化学構造情報が同時に得られるユニークな表面分析法である。
固体最表面の高感度かつ詳細な化学分析が可能であるほかに、近年は、クラスターイオンビーム技術の導入により、有機物の高感度分析が可能になったほか、有機深さ方向分析の能力が飛躍的に向上した。著しい進歩を遂げているTOF-SIMSについて、最新の測定・解析技術と応用事例を紹介する。
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
ライブ配信またはアーカイブ配信セミナーのいずれかをご選択いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/5/30 | X線光電子分光法 (XPS、ESCA) の基礎と実務活用テクニック・ノウハウ | オンライン | |
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発行年月 | |
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2023/8/31 | “ぬれ性“の制御と表面処理・改質技術 |
2014/8/25 | ぬれ性のメカニズムと測定・制御技術 |
2007/12/10 | 表面・深さ方向の分析方法 【新装版】 |