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赤外線・テラヘルツセンサの基礎と応用

赤外線・テラヘルツセンサの基礎と応用

東京都 開催 会場 開催
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開催日

  • 2017年2月16日(木) 12時30分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 赤外線、テラヘルツ波に関連する技術者、研究者
    • 医療機器
    • セキュリティ
    • 半導体検査
    • 分析機器
    • 非破壊検査装置
    • プラントなどの大型設備検査
    • 生体センシング など
  • 赤外線センサの性能評価に携わる方
  • 赤外線計測、サーモグラフィの担当者
  • 赤外線分光計測の担当者
  • 赤外線計測、テラヘルツ計測について基礎から学びたい方
  • 赤外線計測の応用を検討されている方
  • テラヘルツテクノロジーに興味を持っている方

修得知識

  • 赤外線センサで測定できること
  • 赤外線センサで測定したデータの考え方
  • 赤外線センサの性能評価の方法
  • 赤外線計測の応用分野
  • テラヘルツセンシングの基礎知識
  • テラヘルツセンサの性能評価の方法
  • テラヘルツセンシングが期待される分野

プログラム

  1. 赤外線・テラヘルツとは
    1. 光、電磁波
    2. 赤外線・テラヘルツの分類
    3. 基本的な性質と特徴
  2. 光・赤外線・電波の研究の歴史
    1. 赤外線の発見
    2. 光の粒子説と波動説、
    3. 熱放射と電波の放射
    4. 赤外線からテラヘルツへ
  3. 電磁波のマクスウェル方程式
    1. 光・赤外線・電波のマクスウェル方程式
    2. 電磁界の波動の性質
  4. 赤外線の伝搬
    1. 透過と反射
    2. 吸収
    3. 散乱と回折および消散
    4. 大気の伝搬特性
    5. 透過材料
  5. 赤外線の放射
    1. 熱放射に関するキルヒホッフの法則
    2. 吸収率、反射率と放射率
    3. プランクの法則と黒体放射、灰色体放射
    4. 連続スペクトルと線スペクトル、自然放射と誘導放射
    5. 光源
  6. 赤外検出器と感度
    1. 赤外線・テラヘルツ波の検出・計測
    2. 感度
    3. 光子 (量子型) 検出
    4. 熱的検出
    5. 電界検出
    6. 検出器の種類
  7. 赤外検出器の雑音
    1. 雑音と分散、標準偏差
    2. ランダム離散発生のスペクトル密度関数
    3. ショット雑音
    4. 熱雑音と誘電損雑音
    5. 生成・再結合雑音と光子雑音
    6. 熱伝導ゆらぎによる雑音、f分の1雑音
    7. 量子型および熱型検出器の雑音
    8. OPアンプ増幅器出力における雑音
  8. 赤外検出器の性能指標と評価
    1. 性能指標
    2. NEP (雑音等価電力)
    3. 検出能Dおよび比検出能D*
    4. 雑音等価放射照度 (NEI)
    5. 雑音等価温度差 (NETD)
    6. 性能評価法
  9. 赤外・テラヘルツ計測の方法
    1. 放射計測
    2. 温度計測
    3. 分光計測
    4. ハイパースペクトラルイメージング
    5. プリズム分光法
    6. グレーティング分光法
    7. フーリエ分光法 (FTIR)
    8. テラヘルツ時間領域分光法 (THz-TDS)
  10. 赤外線計測の応用
    1. 放射温度計測とサーモグラフィ
      • 建物劣化診断
      • パンデミック対策
      • 事故防止車載暗視カメラ
    2. 赤外分光・分析の応用
      • 運転者のアルコール検知
      • てのひら静脈個人認証
    3. 赤外リモートセンシング、天文学、防衛
      • CO2濃度の全地球モニター
      • 都市の熱環境の解析
      • 吹付コンクリートのり面の老朽化検査
      • 赤外銀河の観測
      • 赤外2波長カメラによる航空機検知
    4. ハイパースペクトラルイメージングの応用
      • 空撮による地表の植生
      • 鉱物分布のモニター
      • 医療検査応用 (血管、癌)
      • 食品・薬品中の混合物のモニター
      • 毛髪の保湿度のモニター
      • 人のストレスの検知
  11. テラヘルツ計測の応用
    1. テラヘルツ分光
      • 医薬品の成分モニター
      • 生体分子の水和度の検出
      • 農産物中の機能成分のモニター
      • 食品中の毛髪混入の検知
    2. テラヘルツアクティブイメージング
      • 葉中の水分モニター
      • 荷物検査
      • 封筒検査
      • 古絵画の絵具分析
    3. テラヘルツパッシブイメージング
      • パッシブボディスキャナー
      • 冷凍品のモニター
      • 高温超伝導線のモニター
    4. テラヘルツ3次元イメージング
      • 錠剤の糖衣膜厚の検査
      • 3次元CT
    5. テラヘルツ近接場顕微鏡
      • 無開口プローブ顕微鏡
      • 開口プローブによる近接場検出
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講師

  • 廣本 宣久 氏
    静岡大学 創造科学技術大学院 ナノビジョン工学専攻
    教授
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会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
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主催

株式会社 トリケップス
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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 43,000円 (税別) / 46,440円 (税込)
1口
: 56,000円 (税別) / 60,480円 (税込) (3名まで受講可)
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