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モデルベースのソフトウェアテスト技法:FOT (Feature Oriented Testing)

モデルベースのソフトウェアテスト技法:FOT (Feature Oriented Testing)

東京都 開催 会場 開催

概要

本セミナーでは、ソフトウェアテスト概論、及び直交表やPair-wise 法等の組合せテストの進化の歴史を紹介し、産総研が研究開発する先端的なモデルベースのソフトウェアテスト技法「FOT」について解説致します。

開催日

  • 2014年1月22日(水) 13時30分 16時30分

プログラム

 Pair-wise 法 (及び、その拡張である N-wise 法) とは組合せ技術を用いたソフトウェアテスト技術である。Pair-wise 法はハードウェアのテスト技術に用いられる「直交表」を基に、ソフトウェアテスト向けに発展したテスト技術である。
近年の高まるソフトウェア品質確保の需要や安全規格対応などから、少ないテストで多くの不具合を発見できる Pair-wise 法が最近再注目を浴びている。さらに最近、独立行政法人産業技術総合研究所 (産総研) は、Pair-wise 法にモデルベース開発技法を取り入れた、モデルベーステスト技法「FOT 技法」を開発している。
本技術ではモデルベースのテスト設計を行うと、そのテスト設計より Pair-wise 法を基にした網羅的なテストケースを自動に生成することができる。
 本講演では、ソフトウェアテスト概論、及び直交表やPair-wise 法等の組合せテストの進化の歴史を紹介し、産総研が研究開発する先端的なモデルベースのソフトウェアテスト技法「FOT」について解説する。

  1. ソフトウェアテスト、組合せテスト、Pair-wise法
    1. Pair-wise法
    2. Pair-wise法支援ツールデモ
    3. Pair-wise法の歴史
    4. 直交表とPair-wise法
    5. Pair-wise法アルゴリズム
  2. FOT (Feature Oriented Testing)
    1. FOT開発の背景
    2. FOT技術詳細
    3. FOTツールデモ
    4. FOT評価実験の紹介

講師

  • 北村 崇師
    独立行政法人産業技術総合研究所 セキュアシステム部門 システムライフサイクル研究グループ
    研究員

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図

主催

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お問い合わせ

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受講料

1名様
: 43,000円 (税別) / 45,150円 (税込)
1口
: 55,000円 (税別) / 57,750円 (税込) (3名まで受講可)

割引特典について

  • 複数名 同時受講:
    1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)
本セミナーは終了いたしました。