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FT-IR活用の必須知識とスペクトル・データ測定・解析のテクニック

FT-IR活用の必須知識とスペクトル・データ測定・解析のテクニック

東京都 開催 会場 開催

概要

本セミナーでは、赤外線分光法の基礎から解説し、FT-IRや顕微FT-IRを用いた分析のノウハウを基礎から丁寧に説明いたします。
また、前処理やきれいなスペクトルを得る測定方法、解析のコツを解説いたします。

開催日

  • 2012年4月24日(火) 13時00分16時30分

受講対象者

  • FT-IR・顕微IRを用いた異物分析の担当者、技術者

修得知識

  • 赤外分光法の基礎
  • 正しいスペクトルの取得・取扱・データ処理
  • スペクトルの解析事例

プログラム

 本セミナーでは、赤外線分光法の基礎から解説し、FT-IRや顕微FT-IRを用いた分析のノウハウを基礎から丁寧に説明いたします。
 また、前処理やきれいなスペクトルを得る測定方法、解析のコツを解説いたします。

  1. 赤外分光法の基礎
    1. 赤外分光法の基礎
    2. スペクトルの解析法の基礎
    3. スペクトルの帰属の例
    4. 検索プログラムを利用した解析法
  2. FT-IRの原理
    1. FT-IRの装置の原理
      ~IRスペクトルが得られるまで~
    2. FT-IRの波数拡張性と近赤外スペクトル、遠赤外スペクトル
    3. 最適な測定パラメータの設定
  3. 各種測定法の原理とスペクトルの取扱
    ~正しいスペクトルの取得、データ処理、解析事例~
    1. 透過測定法
      1. KBr錠剤法
      2. 薄膜法
      3. 液膜法
      4. 溶液法
    2. ATRを中心とした各種反射測定法
      1. ATR法
      2. 拡散反射法
      3. 正反射法・透過反射法
      4. RAS法
  4. 顕微FT-IR
    1. 顕微FT-IRの原理
    2. クオリティの高いデータ取得のためのテクニック【前処理編】
    3. クオリティの高いデータ取得のためのテクニック【測定編】
    4. 顕微 FT-IR の付属ユニットを含めた測定
    5. 赤外イメージングと異物分析を中心とした測定例
    • 質疑応答・名刺交換

講師

  • 渡邉 敬祐
    日本分光 株式会社 光分析ソリューション部 ソリューション技術課

会場

品川区立総合区民会館 きゅりあん

5F 第1講習室

東京都 品川区 東大井5丁目18-1
品川区立総合区民会館 きゅりあんの地図

主催

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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 40,000円 (税別) / 42,000円 (税込)
複数名
: 33,000円 (税別) / 34,650円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名で参加の場合、1名につき 7,350円割引
  • 3名で参加の場合、1名につき 10,500円割引 (同一法人に限ります)
本セミナーは終了いたしました。

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