技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、AFMを使用する上でのノウハウ、測定条件、データの取得・解析方法、AFMを用いた材料および表面科学の手法、適切で効果的なAFM測定を行うための基本原理・測定方法・解析方法を基礎から解説いたします。
AFM (原子間力顕微鏡) を所有しているものの使いこなせない、データ解析が難しい、フォースカーブが理解しにくい、カンチレバーの選び方が分からない、サンプル作製時の注意点を知りたい、あるいはAFMの導入を検討しているが判断が難しい – - このような悩みを抱えるユーザーが増えています。AFMは「ナノテクノロジーの目」とも称され、SEMと並んで一般化が進んでいます。小型で比較的安価なため、企業の基礎開発部門への導入も拡大しています。しかし、適切で効果的なAFM測定を行うには、基本原理・測定方法・解析方法といった基礎を習得する必要があります。測定がうまくいかない場合には原因が特定できず、活用範囲が形状観察のみにとどまってしまうケースも多く見受けられます。AFM利用で最も重要な点は、探針先端による力測定の「高精度化」です。精度が低いと、最終的な表面形状・寸法・弾性率など、すべての解析結果に誤差として反映されてしまいます。
本セミナーでは、この力測定の高精度化に重点を置いて解説します。本セミナーは「入門編」「基礎編」「実用編」で構成され、豊富なデータとともに、段階的に理解を深められる内容となっています。
講師の長年の経験に基づき、AFMを導入・運用するユーザーの視点から、重要な技術ポイントを分かりやすく整理して解説します。また、AFMに関する日常的なトラブル対応や技術開発に関する相談にも応じます。多くの測定例を交えながら、ユーザー視点でのAFM活用方法について実践的に理解していただける内容となっています。
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/1/16 | 高分子微粒子の合成、粒径制御とその中空化 | オンライン | |
| 2026/1/23 | 原子間力顕微鏡 (AFM) の基礎理論と高精度測定技術 | オンライン | |
| 2026/1/27 | 高分子微粒子の合成、粒径制御とその中空化 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/3/31 | 電子顕微鏡〔2025年版〕技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2025/3/31 | 電子顕微鏡〔2025年版〕技術開発実態分析調査報告書 (書籍版) |