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赤外線・テラヘルツセンサの基礎と応用

赤外線・テラヘルツセンサの基礎と応用

東京都 開催 会場 開催
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開催日

  • 2018年6月22日(金) 10時30分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 赤外線計測の応用を考えられている方。
  • 赤外線イメージング、分光計測をされている方
  • 赤外線センサの研究開発に携わっている方
  • テラヘルツテクノロジーに興味を持っておられる方。
  • テラヘルツ計測について、基礎から学びたい方
  • テラヘルツ計測の応用を検討されている方

修得知識

  • 赤外線センサので測定データの考え方
  • 赤外線センサの性能評価の方法
  • 赤外線計測の応用分野
  • テラヘルツ技術の基礎知識
  • テラヘルツセンサの性能評価の方法
  • テラヘルツセンシングが期待される分野

プログラム

  1. 赤外線・テラヘルツとは
    1. 電磁波の世界
    2. 赤外線・テラヘルツの分類
    3. 赤外線とテラヘルツ波の性質と特徴
  2. 光・電波および赤外線・テラヘルツの研究の歴史
    1. 光の研究のはじまり
    2. 光と電波、電磁波=電磁気の波動
    3. 熱放射と光の量子論
    4. 赤外線の発見と赤外線からテラヘルツへ
  3. マクスウェル方程式と電磁波の放射・検知
    1. マクスウェル方程式を読む
    2. 電磁界の波動の性質
    3. 電磁波の放射と検知
    4. 電界の強度と光子の密度の関係
  4. 熱放射と光源
    1. 物質による光子の吸収と放出
    2. 熱放射に関するキルヒホッフの法則 – 吸収率と放射率の関係
    3. プランクの法則と黒体放射,一般の物質の熱放射と放射率
    4. 熱放射とアインシュタインのA係数・B係数
    5. 熱放射による赤外・テラヘルツ光源
    6. 赤外線LED
    7. 赤外・テラヘルツ半導体量子カスケードレーザー
    8. フォトニックテラヘルツ光源,超短テラヘルツパルスの発生
    9. エレクトロニックテラヘルツ光源,共鳴トンネルダイオード
  5. 伝搬媒質との作用と赤外線・テラヘルツ材料
    1. 電磁波と媒質との相互作用、
    2. 反射、透過、吸収、散乱と回折および消散
    3. 赤外線の減衰と大気の伝搬特性
    4. 赤外線透過材料
    5. テラヘルツ透過材料
    6. テラヘルツ帯の非線形光学材料
  6. 検出器と感度
    1. 赤外線・テラヘルツの検出
    2. 赤外線検出器の分類
    3. 量子型検出器と感度
    4. 熱型検出器と感度
    5. 電界検出器
    6. フェムト秒レーザーをプローブとする超短パルステラヘルツ波の検出
  7. 検出器の雑音
    1. 雑音と分散、標準偏差
    2. スペクトル密度関数による雑音密度の導出
    3. ショット雑音
    4. 熱雑音、誘電損雑音および生成・再結合雑音
    5. 温度ゆらぎによる雑音、光子雑音およびf分の1雑音
    6. 量子型検出器の雑音
    7. 熱型検出器 (ボロメータ) の雑音
    8. OPアンプ増幅器出力における雑音
  8. 検出器の性能指標と評価
    1. 性能指標
    2. 検出器への入射光量の見積り方
    3. NEP (雑音等価電力)
    4. 検出能Dおよび比検出能D*
    5. 雑音等価放射照度 (NEI)
    6. 雑音等価温度差 (NETD)
    7. テラヘルツ検出器の性能評価法
  9. 分光法
    1. プリズム分光法
    2. グレーティング分光法
    3. フーリエ分光法 (FTIR)
    4. テラヘルツ時間領域分光法 (THz – TDS)
  10. 赤外線・テラヘルツ計測の方法
    1. 赤外線計測の方法
    2. 放射計測 温度計測 (放射温度,色温度)
    3. 赤外カメラによる放射イメージング
    4. 分光+イメージング
    5. ハイパースペクトルイメージング (HSI)
    6. テラヘルツ計測の方法
    7. アクティブ計測 vs. パッシブ計測
    8. THz時間領域分光による透過測定と反射測定
    9. THzパルスイメージング,3次元CTイメージング
    10. TH – QCL+アレイ検出器によるアクティブイメージング
    11. パッシブイメージングーヘテロダイン検出と極低温高検出能検出器
    12. テラヘルツ近接場顕微イメージング
  11. 赤外線計測の応用
    1. 建物・インフラの劣化診断
    2. 事故防止車載暗視カメラ
    3. スマートフォン用赤外線カメラ
    4. 3Dイメージングセンサー
    5. 衛星からの大規模災害監視
    6. 地球温暖化分子ガスの全地球モニター
    7. 運転者のアルコール検知
    8. 航空機搭載ハイパースペクトルイメージングによる広地域捜索
    9. HSIの医療検査応用 (血管と酸素飽和度、癌)
    10. HSIによる毛髪の保湿度のモニター
    11. HSI添加剤中の混合物のモニター
    12. HSIによる食品の品質検査・選別
    13. HSIによる人のストレスの検知
    14. 赤外線天文観測 – 銀河系、大マゼラン星雲
    15. 防衛監視 – 赤外2波長カメラによる航空機検知
  12. テラヘルツ計測の応用
    1. 計測・分光装置の性能標準
    2. 有機物質の成分分析 – 色素分子の異性体の識別
    3. 紙製品の性質の計測
    4. 0.2THzイメージングによる鞄の検査
    5. 0.25THzパッシブボディスキャナーと反射・放射イメージング
    6. 広視野大面積アクティブイメージング
    7. ベルトコンベア用テラヘルツスキャナー
    8. プラスチックの欠陥,厚みの検査
    9. 製造工程の薬品材料の検査
    10. 多層塗装膜の検査
    11. 金属面のポリマーコートの検査
    12. 美術絵画の絵の具の塗り具合の計測
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講師

  • 廣本 宣久 氏
    静岡大学 創造科学技術大学院 ナノビジョン工学専攻
    教授
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会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
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主催

株式会社 トリケップス
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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 46,000円 (税別) / 49,680円 (税込)
1口
: 57,000円 (税別) / 61,560円 (税込) (3名まで受講可)
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