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二川 清

所属

金沢工業大学

役職

客員教授

学位

工学博士

専門

  • 信頼性工学

経歴

  • 1974年 日本電気 株式会社 (NEC) 入社.スパコン用LSIなどの信頼性技術を担当
  • 1992年 同社 主管研究員.故障解析技術の研究開発
  • 1995年 論文提出により工学博士 (大阪大学)
  • 2001年〜現在 大阪大学大学院工学研究科にて非常勤講師、特別講師など
  • 2005年 NECエレクトロニクス 株式会社 シニアプロフェッショナル
  • 2007年〜現在 金沢工業大学大学院 客員教授
  • 2008年〜現在 芝浦工業大学 非常勤講師
  • 2009年 NECエレクトロニクス 株式会社 定年退職
  • 2010年〜2012年 大阪大学大学院 特任教授
  • 2013年〜現在 日本学術振興会167委員会顧問

この間、日本信頼性学会 (REAJ) 副会長、REAJ – LSI故障解析研究会リーダー、 電子情報技術産業協会 (JEITA) 半導体ロードマップ委員会 (STRJ) 故障解析技術TF (後、SWG) リーダー、JEITA信頼性委員会故障解析WGリーダー、東京理科大学非常勤講師、NEC社内研修所 (後、ユニバーシティー) 講師、日本科学技術連盟 (日科技連) 講師、日科技連信頼性・保全性シンポジウム組織委員、LSI (現、ナノ) テスティングシンポジウム企画運営委員など

講演したセミナー

会場 開催方法
2017/11/29 加速寿命試験と寿命データ解析の基礎 東京都