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本山 晃

所属

M.A 信頼性技術オフィス

役職

代表

専門

  • 電子部品の信頼性・安全性評価・技術開発

経歴

  • 1977年3月 長崎大学工学部 材料工学科卒業
  • 1977年4月 松下電工株式会社入社 綜合技術研究所配属
    • ブレーカ用バイメタル周辺の熱解析やアーク放電現象の研究
  • 1991年6月 松下電工株式会社 綜合技術研究所 評価技術研究所 主査技師
    • リレーの接触信頼性研究、電子回路搭載電子部品の信頼性研究
  • 2003～2012年 松下電工株式会社 解析センター 主査、主幹技師
  • 2012年9月 大阪大学大学院 工学研究科 招聘教員
  • 2014年11月 パナソニック株式会社 退職
  • 2015年6月 M.A信頼性技術オフィス 設立

電子部品の信頼性評価や寿命末期の安全性評価を専門に技術開発をしています

  • 信頼性評価分野は個別電子部品の耐用寿命の推定や回路の故障率および耐用寿命の推定など
  • 寿命末期の安全性評価分野では電子回路の寿命末期時に不安全になる部品の推定と不安全モードになるストレス印加の方法など

大阪大学大学院 工学研究科 非常勤講師を兼務

学協会

  • 日本信頼性学会 広報委員
  • 日本信頼性学会 「故障物性研究会」 幹事
  • 日本信頼性学会 「信頼性試験研究会」 会員

著書

高分子材料の劣化と寿命予測 電子・電気の技術開発

受賞

  • 1986年 米国継電器工業会 第2位受賞
  • 1989年 日本電機工業会 技術功労者 発達賞
  • 1997年 日本信頼性学会 奨励賞
  • 2009年 日本信頼性学会 優秀記事コラム賞
  • 2010年 信頼性・保全性シンポジウム 特別賞

最近の学会発表

  • 2008年 最適加速試験項目の選択と試験条件 (三菱電機松岡氏共著) /日本信頼性学会
  • 2009年 確率紙を使った特性値の分布調査 (三菱電機松岡氏共著) /日本信頼性学会
  • 2010年 前兆現象による故障の発生予測 (共著) /日本信頼性学会
  • 2010年 高信頼性を実現するセットメーカの試験解析/第40回信頼性・保全性シンポジウム
  • 2013年 電子機器の安全性評価と寿命予測/第43回信頼性・保全性シンポジウム