技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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アルバック・ファイ(株)
営業技術室
X線光電子分光分析法 (XPS) などの表面分析装置メーカーに1980年より所属し分析業務に従事。
飛行時間型二次イオン質量分析法の高精度化に関する研究で学位を取得。
| 会場 | 開催方法 | ||
|---|---|---|---|
| 2013/2/27 | XPS/ESCA (X線光電子分光法) による分析技術の必須知識と活用方法 | 東京都 |