技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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視聴期間は2024年8月23日〜30日を予定しております。
お申し込みは2024年8月28日まで承ります。
本セミナーでは、X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡などを取り上げ、表面・界面分析手法について基礎から解説し、目的に応じた最適な測定方法の選定について、実際の分析事例をもとにわかりやすく解説いたします。
表面的に物を見る、という言葉は決して良い意味で使われない言葉です。しかし実のところ表面は多彩な形態や機能を持ち、材料自身とは全く異なる特有の性質を示すこともあります。現在、電子分光や光を使った手法、プロープ顕微鏡や放射光など表面分析を行うものとしては各種の分析手法がありますが、表面の何を調べるのかで最適な計測手法は異なります。
表面の何を知りたいか?を出発点として、表面を調べるにあたって、どんな手法が最適で何がわかるのか?を、実際の分析事例をもとに解説していきます。
理想的な系で得られるデータだけでなく、実際測定しようとしている部材に適用する際の注意点や、解析における注意点、表面と界面の違いなどを紹介いたします。また、表面・界面に存在する分子の情報を選択的に取得する手法としての和周波分光についての解説も行います。
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複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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| 発行年月 | |
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| 2022/5/31 | 樹脂/フィラー複合材料の界面制御と評価 |
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| 2007/12/10 | 表面・深さ方向の分析方法 【新装版】 |