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電子材料の抵抗率 (導電率) 測定の注意点と測定テクニックの向上

電子材料の抵抗率 (導電率) 測定の注意点と測定テクニックの向上

大阪府 開催 会場 開催

開催日

  • 2012年11月21日(水) 12時30分 16時30分

プログラム

各種電子材料などの抵抗率 (導電率) 測定について、その原理や測定法の説明、実際の測定にあたっての注意点を解説する。

  1. 抵抗と抵抗率
  2. 低抵抗領域の測定
  3. テスターで測ると何故不安定なのか?
  4. テスターでの測定はダメなのか?
  5. 4端子法と2端子法
  6. 接触抵抗とは?
  7. 4探針法とは?
  8. 4探針法と4端子法の違い
  9. 表面抵抗率と体積抵抗率の使い分け
  10. 傷が付き易い試料の測り方
  11. 薄膜の抵抗率測定
  12. 高抵抗領域の測定
  13. 2重リング法とは?
  14. 表面抵抗率と体積抵抗率の測り方は違うのか?
  15. JIS K6911とは?
  16. ガード電極は必要か?
  17. 温度や湿度で抵抗値が変わるのか?
  18. 印加電圧や測定時間はどのように決めるのか?
  19. 高抵抗薄膜の測定
  20. 中間領域の試料は定電流印加法と定電圧印加法のどちらで測るか?
  21. 粉体の抵抗はどうやって測るか?
  22. リチウムイオン電池電極の厚み方向の測定について
  23. 高温や低温下での低抵抗測定は?
    • 質疑応答・名刺交換

講師

  • 西井 俊文
    日東精工アナリテック株式会社 営業推進部
    部長代理

会場

ドーンセンター

4F 大会議室1

大阪府 大阪市 中央区大手前1丁目3-49
ドーンセンターの地図

主催

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受講料

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: 38,000円 (税別) / 39,900円 (税込)
複数名
: 31,000円 (税別) / 32,550円 (税込)

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  • 2名で参加の場合、1名につき 7,350円割引
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