技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、車載用電子部品・電子機器の信頼性について基礎から解説し、電子部品の故障メカニズム・評価・解析手法を詳説いたします。
自動車はどのような環境でも、故障が起こらないことが前提であり、購入品を含めた信頼性の作り込みが要求され、故障が起こった場合には徹底的な故障解析が必要になる。
本セミナーでは自動車メーカの要求事項や車載用部品に関する規格などを示すとともに故障メカニズム、信頼性評価、および故障解析に関し、解説する。故障メカニズムは信頼性の基礎であり、信頼性の作り込み、信頼性評価、故障原因究明には不可欠な知識であり、これを理解することにより正しい対応が可能である。また、経験の乏しい技術者でも故障メカニズムが分かればある程度の対抗が可能である。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2024/3/29 | QC工程表・作業標準書の作り方 | オンライン | |
2024/3/29 | 最新の実装技術に対応した放熱設計の進化 | オンライン | |
2024/3/29 | 表面観察・分析装置を用いた電子部品の不具合箇所の特定・観察・解析と不良対策 | オンライン | |
2024/3/29 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2024/3/29 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見 + 問題解決) | オンライン | |
2024/3/29 | 抜取検査 | オンライン | |
2024/4/5 | GMP文書および記録作成と手順書改訂時における具体的な品質照査 (レビュー) | オンライン | |
2024/4/8 | 信頼性試験の基本と統計的手法の使い方 | オンライン | |
2024/4/9 | EVにおける車載機器の熱対策 | オンライン | |
2024/4/9 | 信頼性試験に役立つワイブル解析の基礎と実践 | オンライン | |
2024/4/9 | 異物不良ゼロを実現する異物の正体 / 34の発生源 / 7つの伝達経路と現場の経験則 | オンライン | |
2024/4/11 | TIM (サーマルインターフェイスマテリアル) の特性、開発動向と熱設計への適用技術 | オンライン | |
2024/4/11 | 不良ゼロへのアプローチ | オンライン | |
2024/4/11 | 表面観察・分析装置を用いた電子部品の不具合箇所の特定・観察・解析と不良対策 | オンライン | |
2024/4/15 | 先端半導体製造におけるシリコンウェーハ表面のクリーン化技術および洗浄・乾燥技術 (2コースセット) | 東京都 | 会場・オンライン |
2024/4/15 | 半導体製造ラインのウェーハ表面洗浄・乾燥および汚染除去技術の基礎から最新動向まで | 東京都 | 会場・オンライン |
2024/4/16 | GMP文書および記録作成と手順書改訂時における具体的な品質照査 (レビュー) | オンライン | |
2024/4/18 | 電子機器の故障メカニズムと未然防止・故障解析のポイント | オンライン | |
2024/4/19 | 車載半導体の最新技術と今後の動向 | オンライン | |
2024/4/22 | 電子機器の防水設計の基礎と応用・不具合対策 | オンライン |
発行年月 | |
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2008/4/20 | カーナビゲーション 技術開発実態分析調査報告書 |
2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
2005/6/30 | 車載LANとその応用 |
2003/11/18 | LSI設計の実戦ノウハウとプロセス知識 |
1999/10/29 | DRAM混載システムLSI技術 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1990/9/1 | LSI樹脂封止材料・技術 |
1990/6/1 | LSI周辺金属材料・技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/10/1 | 高密度表面実装 (SMT) におけるLSIパッケージング技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
1985/12/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅰ) |
1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |