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抵抗率の正しい測定方法

入門

抵抗率の正しい測定方法

～機器・手法の理解、測定のポイント、データの解釈～
東京都 開催 会場 開催
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開催日

  • 2014年6月10日(火) 13時00分 ～ 16時45分

プログラム

  1. 抵抗と抵抗率
  2. 低抵抗領域の測定
  3. テスターで測ると何故不安定なのか?
  4. テスターでの測定はダメなのか?
  5. 4端子法と2端子法
  6. 接触抵抗とは?
  7. 4探針法とは?
  8. 4探針法と4端子法の違い
  9. 表面抵抗率と体積抵抗率の使い分け
  10. 傷が付き易い試料の測り方
  11. 低抵抗薄膜の抵抗率測定
  12. 高抵抗領域の測定
  13. 2重リング法とは?
  14. 表面抵抗率と体積抵抗率の測り方は違うのか?
  15. JIS K6911とは?
  16. ガード電極は必要か?
  17. 温度や湿度で抵抗値が変わるのか?
  18. 印加電圧や測定時間はどのように決めるのか?
  19. 高抵抗薄膜の測定
  20. 中間領域の試料は定電流印加法と定電圧印加法のどちらで測るか?
  21. 粉体の抵抗はどうやって測るか?
  22. フィルムの厚み方向の測定
  23. 高温や低温下での低抵抗測定は?
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講師

  • 西井 俊文 氏
    日東精工アナリテック株式会社 営業推進部
    部長代理
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会場

連合会館

4階 401

東京都 千代田区 神田駿河台三丁目2-11
連合会館の地図
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主催

S&T出版 株式会社
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お問い合わせ

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(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 38,889円 (税別) / 42,000円 (税込)
複数名
: 28,889円 (税別) / 31,200円 (税込)

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  • STbook会員登録を希望する
    • 1名 36,944円 (税別) / 39,900円 (税込)
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    • 複数名 28,889円 (税別) / 31,200円 (税込)
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