市場の要求品質を満足させるための
電子部品における認定評価のための信頼性データ解析入門
演習付き
目標品質に適合した工程管理基準を確立するための特別セミナー!
概要
本セミナーでは、電子部品を事例として、認定評価に必要な信頼性データの解析手順を解説します。
目標品質に適合した試料数と試験時間、市場の目標品質に適合した工程の品質管理基準が調整できるようになります。
開催日
2010年8月23日(月) 10時30分～17時30分
受講対象者
- 電子部品選定や認定評価、製品の量産品質の管理に携わる方
- ワイブル確率紙、正規確率紙、ワイブル型累積ハザード紙を使った信頼性試験結果や工程データの解析を、実務へ応用する手順を修得したい方
修得知識
- 認定評価のための信頼性試験において、目標品質に適合した試料数と試験時間を調整可能となる
- 市場の目標品質に適合した、工程の品質管理基準を調整可能となる
予備知識
- セミナーで用いる用語として、JIS-Z-8115 に定義されている信頼性用語・品質管理用語が参考になります。
プログラム
- セミナー概要
- 現状の信頼性試験における問題点の整理
- 講座の狙い
- 信頼性の定量化
- 電子部品の寿命分布 (摩耗故障,初期故障,偶発故障)
- 信頼性を表す統計量
- ワイブル分布と確率紙
- 試料数と故障確率の関係 (OC曲線)
- 実使用に対する適合性の認定評価の流れ
- 信頼性決定試験と信頼性適合試験
- 信頼性適合試験の流れ
- 信頼度目標の設定の仕方
- 電子部品のストレス履歴の調査
- ストレス履歴の抽出
- 実動作時間への換算
- システム組付け工程ストレスの推定
- 市場のストレス分布
- 摩耗故障の寿命分布の検証
- 加速モデル選択と加速係数
- 計数抜取信頼性試験
- 演習3 : 試験条件における耐用寿命と試験時間の調整
- 計量抜取信頼性試験
- 演習4 : 母平均と母分散の算出と累積故障確率の推定
- 現状の信頼性試験規格の問題点
- 初期故障の寿命分布の検証
- 公的な初期故障率の検証試験規格
- 電子部品メーカ工程情報に基く初期故障率の検証
- 市場の初期故障率推定
- 強度試験・限界試験結果の解析
- はんだ耐熱試験結果の解析
- 静電破壊耐量試験結果の解析事例
- 電気的特性のばらつき評価と抜取検査
- まとめ
- 試験結果のレビューと品質管理基準への落し込み
- 信頼性管理の心構え
- 今後の認定評価の課題 (機能性評価の活用)
電子部品を事例として、認定評価に必要な信頼性データの解析手順を解説します。
電子部品を機器へ搭載する事前の認定評価では、目標とする寿命範囲において摩耗故障が顕在化しないことと、その範囲の初期故障の発生確率が極めて小さな値であることに目標をおいて、市場の要求品質を満足することの事前検証に結び付けます。
摩耗故障については、試験において取得された電気的特性などの品質特性のばらつきが、稼働時間とともにどのように変化するかを調べることが重要になります。
初期故障については、製造工程における故障データを時系列に並べて、その後の実稼動において発生する初期故障率を推定することが重要になります。
このような信頼性データ解析結果がSQCにおける工程管理基準に反映される他、このようなデータ解析を意識することで、効率的かつ効果的な認定評価にも結びつきます。
会場
株式会社日本テクノセンター 研修室 (東京・西新宿)