LEDの寿命評価およびLEDシステムの信頼性・熱設計

従来のシリコンICやLSIと大きく異なる

LEDの寿命評価およびLEDシステムの信頼性・熱設計

寿命を確保するためのポイントを修得し、高い信頼性をもった製品を開発しよう!

本セミナーは終了いたしました。

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概要

このセミナーでは、 LED システムの信頼性設計と熱管理のポイントを詳解いたします。

開催日

2010年3月18日(木) 10時30分~17時30分

受講対象者

  • LED照明 の設計担当者
  • LED を使用した装置、システムの設計担当者
  • LED を含めた半導体デバイスの信頼性評価に携わる方

修得知識

  • LED の寿命と評価法の現状
  • 寿命を確保するためのポイント
  • LED を使ったシステムの信頼性の評価と設計法
  • 熱管理に重要な熱抵抗測定方法
  • 放熱設計 及び実装品質管理に応用が可能な過渡熱抵抗測定法

予備知識

  • LED の電気的特性等、 LED の使用にあたってのスペックや規格が理解できること

プログラム

  1. LED の信頼性の特徴
    1. 半導体デバイスの信頼性とは何か – 信頼性の2つの側面
    2. 故障率のバスタブカーブ
    3. LED で想定される故障
    4. LED の信頼性への取組み – シリコンICやLSIとの基本的な違い
  2. メーカ、研究機関のデータから
    1. 各社の信頼性試験データと設計者向けツール
    2. 市販高光束 LED の寿命データ例
    3. 寿命試験方法と寿命予測
    4. 報告に見られる活性化エネルギーの比較
  3. LED 寿命評価に関する標準化の動き
    1. ASSIST RECOMMENDATION
    2. LED ダウンライト試験報告例
    3. IES規格 LM-80
    4. LED 照明器具のEnergy Star 適合基準
  4. 偶発故障の故障率
    1. 偶発故障の故障率の推定
    2. 信頼水準と期待故障数及び試験に必要な個数
  5. LED システムの信頼性設計
    1. Multi-LED System に要求される特性
    2. 交通信号灯をモデルとしたシミュレーション
    3. 加速寿命試験による故障率予測とデバイスアワーの壁
  6. 磨耗故障による故障率
    1. LED 寿命評価のポイント – なぜ分布データとしての統計的調査が必要か
    2. LED 寿命に至る前に急増する故障率
    3. LED 寿命評価の実際
    4. 温度加速試験が成り立つための条件と温度加速試験の失敗例
  7. LED の発熱と熱抵抗評価
    1. LED 発熱の起源 – LED からの発熱は従来光源と比べてどこが異質か
    2. LED の性能と信頼性がいかに温度に敏感に影響されるか
    3. 接合温度の推定と熱抵抗測定法
    4. K Factor の理論的背景
    5. Heating Curve とその解析
    6. 過渡熱抵抗の LED 実装不良検出への応用

 次期の省エネルギー照明やディスプレーの光源として期待されている LED は固有で有限の寿命をもっているため、信頼性評価や信頼性設計の考え方が、従来のシリコンICやLSIの場合とは大きく異なる点に注意が必要です。

 本セミナーではまず、 LED の信頼性の特徴を述べ、信頼性評価の実例を概観したあと、寿命評価に関する標準化の動き、 LED システムの信頼性設計のポイントを解説します。とくに寿命に関しては統計的データが信頼性設計上重要であることを理解していただきます。
 続いて、 LED の熱管理のポイントを明らかにし、基本技術である熱抵抗の測定方法について説明します。なかでも過渡熱抵抗の評価が照明器具などの LED システムも含めた放熱設計検証ツールとして、また LED の実装不良の検出に有効な手段になりうることを解説します。

 信頼性が初めての人や、半導体はもとより LED を扱うことに慣れていない人にもわかりやすいようにご説明したいと思います。

会場

株式会社日本テクノセンター 研修室 (東京・西新宿)

受講料 (税込)

1名様
: 47,250円
複数人
: 42,000円

本セミナーは終了いたしました。

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